1 Introduction. - 1. 1 Conception pour la qualité et la fabricabilité. - 1. 2 Notation. - 1. 3 Interprétation des concepts de base. - 1. 4 Résumé. - 2 Aperçu de la modélisation statistique IC. - 2. 1 Introduction. - 2. 2 Variations de processus. - 2. 3 Variations environnementales. - 2. 4 Macromodélisation statistique. - 2. 5 Résumé. - 3 Plan d'expériences. - 3. 1 Introduction. - 3. 2 Analyse d'expériences. - 3. 3 Tableaux orthogonaux. - 3. 4 Analyse des effets principaux. - 3. 5 Analyse d'interaction. - 3. 6 Expériences de Taguchi. - 3. 7 Résumé. - 4 Maximisation paramétrique du rendement. - 4. 1 Introduction. - 4. 2 Estimation du rendement. - 4. 3 Amélioration indirecte du rendement. - 4. 4 Méthodes d'optimisation directe du rendement. - 4. 5 Méthodes de gradient généralisées et basées sur des réseaux orthogonaux pour les circuits discrets. - 4. 6 Méthodes de gradient pour les circuits intégrés. - 4. 7 Exemples. - 4. 8 Résumé. - 5 Minimisation et réglage de la variabilité. - 5. 1 Introduction. - 5. 2 Principes de minimisation de la variabilité des circuits discrets. - 5. 3 Principes de minimisation de la variabilité des circuits intégrés. - 5. 4 Criblage des facteurs. - 5. 5 Conception ciblée de Taguchi. - 5. 6 Stratégie de conception en deux étapes. - 5. 7 Exemple 4 : Circuit à retard CMOS. - 5. 8 Exemple 5 : Pilote d'horloge CMOS. - 5. 9 Résumé. - 6 Réduction de la mesure du pire des cas. - 6. 1 Introduction. - 6. 2 La modélisation du transistor. - 6. 3 Minimisation des mesures du pire cas. - 6. 4 Commentaires sur le modèle ?. - 6. 5 Création de modèles du pire cas à partir du modèle statistique. - 6. 6 Résumé. - 7 Optimisation de circuits multi-objectifs. - 7. 1 Introduction. - 7. 2 Optimisation multi-objectifs : aperçu. - 7. 3 Ensembles flous. - 7. 4 Optimisation statistique multi-performances. - 7. 5 Minimisation de la variabilité multi-performances. - 7. 6 Résumé. - Références. Langue : anglais