Les erreurs logicielles constituent un problème multidimensionnel au carrefour de la physique appliquée et des sciences de l'ingénieur. Elles sont par nature des problèmes multi-échelles et multiphysiques qui associent non seulement la physique nucléaire et des semi-conducteurs, les sciences des matériaux, la conception de circuits, l'architecture et le fonctionnement des puces, mais aussi la physique des rayons cosmiques, les problèmes de radioactivité naturelle, la détection de particules et l'instrumentation associée. Soft Errors: From Particles to Circuits aborde le problème des erreurs logicielles dans les circuits intégrés numériques soumis au rayonnement naturel terrestre, l'une des principales limites de la fiabilité de l'électronique numérique moderne. Abordant les fondamentaux des erreurs logicielles, ainsi que les considérations techniques et les aspects technologiques, cet ouvrage complet : Discute des bases de l'environnement de rayonnement naturel, des interactions des particules avec la matière et des mécanismes d'erreurs logicielles ; Détaille les développements instrumentaux dans les domaines de la caractérisation de l'environnement, de la détection de particules et des tests en temps réel et accélérés ; Décrit les dernières avancées informatiques, les stratégies de modélisation et de simulation pour l'estimation du taux d'erreurs logicielles dans les circuits numériques ; Explore les tendances des futurs nœuds technologiques et des dispositifs émergents ; Soft Errors: From Particles to Circuits présente l'état de l'art sur ce sujet complexe et fournit une connaissance approfondie de la chaîne complète de la physique des erreurs logicielles. Cet ouvrage est idéal pour les cours d'introduction de niveau master et doctorat, offre aux chercheurs universitaires une vue d'ensemble spécialisée et constitue un guide pratique pour les ingénieurs de l'industrie des semi-conducteurs ou les ingénieurs d'application. Langue : anglais