Gamme de sondes de test pour circuits intégrés SOP8 et SOIC8, avec option d'espacement de 150 ou 208 mils, pour une programmation fluide des circuits. Avantages clés Permet une programmation fiable et fluide des puces SOP8/SOIC8, avec un espacement de 150 ou 208 mils pour les boîtiers standards. Assure un alignement précis et une connexion sécurisée avec les programmateurs USB EZP2019, EZP2023 et TL866II. Sa conception 3D profilée comprend une butée rétractable qui aligne automatiquement les broches avec les broches de la puce, augmentant ainsi l'efficacité de la programmation et réduisant les risques de désalignement. Conçu pour simplifier la programmation et les tests des puces pour les professionnels, notamment les ingénieurs électroniciens, les développeurs de matériel et les techniciens. Caractéristiques et attributs clés Fonction : Gamme de sondes de test pour circuits intégrés pour boîtiers SOP8 et SOIC8, pour faciliter les flux de programmation et de vérification. Compatibilité : Compatible avec les programmateurs USB EZP2019, EZP2023 et TL866II. Options de taille : espacement de 150 mil et 208 mil pour s’adapter aux empreintes standard des boîtiers. Conception : corps profilé 3D avec butée rétractable pour un alignement automatique des broches. Performances : Améliore la précision de l’alignement et réduit le temps de configuration pendant la programmation et les tests. 23 scénarios d’utilisation pratique Programmation de circuits intégrés SOP8/SOIC8 sur des cartes de développement ou des circuits imprimés finis, permettant une configuration rapide et précise pendant le prototypage ou la production. Test ou remplacement de mémoires Flash SPI ou EEPROM pendant la maintenance, ou l’intervention sur site, garantissant un contact et un alignement fiables. Flux de travail de développement et de débogage matériels utilisant des programmateurs USB courants, accélérant la validation des puces et les tests itératifs. Cet outil se concentre sur un alignement précis, une compatibilité fiable et une conception pratique pour simplifier les tâches de programmation et de test des puces.